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phasics SID4系列波前分析仪

更新：2023-09-21 10:20:54??????点击：

品牌：???Phasics
型号：???SID4

产品介绍

Phasics SID4系列 波前传感器

法国Phasics 公司的产品基于其波前测量专利（专利号CN200780005898）技术，即4 波横向剪切干涉技术。（4-Wave LateralShearing Interferometry）。在增强型改进型哈特曼掩模的基础之上，这种独特技术将超高分辨率和超大动态范围完美结合在了一起。任何应用下，其都能实现全面、简便、快速的测量。

Phasics波前传感器具有如下独特技术优势：

◆高分辨率相位图：可达400ｘ300。

◆可直接测量高发散光束

◆消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。

应用方向：

+ 激光束质量分析

+ 自适应光学

+ 光学系统测量

+ 生物成像

+ 热成像，等离子体表面物理

激光光束测量

自适应光学

光学系统测量

产品参数：

型号	SID4	SID4-HR	SID4-DWIR	SID4-SWIR	SID4-NIR	SID4-UV-HR	SID4- UV
孔径	3.6 × 4.8 mm?	8.9 × 11.8 mm?	13.44 × 10.08 mm?	9.6 × 7.68 mm?	3.6 × 4.8 mm?	13.6 ×10.96 mm?	8.0 × 8.0 mm?
空间分辨率	29.6 ?m	29.6 ?m	68 ?m	120 ?m	29.6 ?m	40 ?m	32 ?m
采样点/测量点	160 × 120	400 × 300	160 × 120	80 × 64	160 × 120	345 × 275	250 × 250
波长	400nm~1100nm	400nm~1100nm	3~5?m,8~14 ?m	0.9 ~ 1.7 ?m	1.5 ~ 1.6 ?m	190 ~ 400 nm	250 ~ 400 nm
动态范围	> 100 ?m	> 500 ?m	N/A	~ 100 ?m	> 100 ?m	> 200 ?m	> 200 ?m
精度	10 nm RMS	15 nm RMS	75 nm RMS	10 nm RMS	> 15 nm RMS	10 nm RMS	10 nm
灵敏度	< 2 nm RMS	< 2 nm RMS	< 25 nm RMS	3nm RMS(高增益） <1nmRMS(低增益）	< 11 nm RMS	1nm RMS @250nm,2?J/cm?	0.5 nm
采样频率	> 60 fps	> 10 fps	> 50 fps	25/30/50/60 fps	60 fps	30 fps	30 fps
处理频率	10 Hz (高分辨率)	3 Hz (高分辨率)	20 Hz	> 10 Hz (高分辨率）	10 Hz	> 3 Hz (高分辨率）	1 Hz
尺寸	54×46×75.3mm	54×46×79mm	85×116×179mm	50×50×90mm	44×33×57.5mm	51 × 51 × 76 mm	95×105×84mm
重量	250 g	250 g	1.6 kg	300 g	250 g	300 g	900 g